Laboratório de Caracterização de Dispositivos Semicondutores

Instituição: Instituto de Estudos Avançados

Cidade/UF: SP/01

Este laboratório tem por objetivo realizar medições de propriedades elétricas de dispositivos semicondutores encapsulados e não encapsulados, além preparar os dispositivos não encapsulados para as medições elétricas ou ópticas. As medições ópticas são realizadas em outro laboratório do IEAv, o Laboratório de Radiometria e Caracterização de Sensores Ópticos. O LCDS têm sido utilizado, principalmente, para caracterização de dispositivos sensores de infravermelho e avaliação dos efeitos da radiação

Áreas de atuação

• Aeronáutica – Radiação Ionizante
• Células Solares
• Dispositivos semicondutores
• Sensores de infravermelho
• Componentes resistentes à radiação ionizante
• Matrizes de plano focal

Técnicas disponíveis

• Caracterização eletro-óptica de sensores de infravermelho e matrizes de plano focal (FPA))
• Assessoria técnica em efeito de radiação em dispositivos semicondutores;
• Treinamento em efeito de radiação em dispositivos semicondutores.

Equipamentos

• Analisador Lógico — Agilent 16822A
• Analisador de Espectro — Stanford SR 770
• Analisador de parâmetros de dispositivos de semicondutores — Keysight B1500A
• Analisador de parâmetros de dispositivos de semicondutores — Keithley 4200-SCS
• Estação de microssondas criogênica — Janis CCR10-2-(6TX)

Dados extraídos do PNIPE/MCTI.