Laboratório de Estudos Avançados em Materiais
Instituição: Associação Pró-Ensino Superior em Novo Hamburgo
Cidade/UF: RS/2755
O espaço está divido em três ambientes: Ala instrumental; De preparação e laboratório de microscopia e análise térmica. Na ala instrumental podem ser encontradas grande parte dos equipamentos disponíveis. No lab. de microscopia e análise térmica encontram-se materiais como microscópio eletrônico de varredura e equipamentos para análise térmica. Na ala de preparação podem ser encontrados alguns equipamentos relacionados à preparação de amostras, os espaços para tal, capelas, etc.
Áreas de atuação
- Desenvolvimento e caracterização de materiais
- Polímeros e biopolímeros
- Processos eletroquímicos para modificação de superfícies
- Preparação e caracterização de nanoestruturas
- Prestação de serviços relacionados às técnicas disponíveis no laboratório, para diferentes matrizes
Técnicas disponíveis
- Determinação de tamanho de partícula por espalhamento dinâmico de luz (DLS)
- Espectroscopia no infravermelho com reflectância atenuada universal (FTIR-UATR)
- Espectroscopia de fluorescência de raios X (FRX )
- Microscopia eletrônica de varredura com acessório de espectroscopia de energia dispersiva de raios X (MEV-EDS)
- Viscosimetria rotacional
- Calorimetria diferencial de varredura (DSC)
- Análise dinâmico-mecânica (DMA)
- Análise termogravimétrica (TGA)
- Intemperismo/envelhecimento acelerado
- Titulação Karl-Fischer
- Cromatografia líquida por permeação em gel (HPLC/GPC)
- Espectroscopia no ultravioleta-visível (UV-Vis)
- Análise de ângulo de contato e tensão superficial
- Análise de área superficial e dimensões de poros
Equipamentos
- Analisador dinâmico-mecânico — Mettler Toledo DMA1
- Analisador termogravimétrico — Shimadzu TGA 51H
- Calorímetro diferencial de varredura — Perkin Elmer DSC 6000
- ESPECTROMETRO DE INFRAVERMELHO SPECTRUM TWO — PERKINELMER HEALTH SCIENCES, INC. SPECTRUM TWO NS 98507
- Microscópio eletrônico de varredura com espectroscopia de energia dispersiva de raios X — Jeol JSM 6510 LV
Dados extraídos do PNIPE/MCTI.