Laboratório de Crescimento e Caracterização de Materiais Cristalinos (multiusuário)

Instituição: Universidade Federal de Ouro Preto

Cidade/UF: MG/s/n

Investigação estrutural e caracterização de materiais; (b) a realização de medições para pesquisa e ensino em pós-graduação nas áreas de física de materiais, engenharia de materiais, metais, materiais orgânicos e inorgânicos, materiais biológicos, análise de gemas e minerais. A difração de raios X de amostras policristalinas é uma ferramenta de amplo uso. Concepções moderna com uma estrutura modular, para análise e quantificação de fases, difração de baixo ângulo e análise de filmes finos.

Áreas de atuação

• Fisica da materia condensada
• Estrutura de Líquidos e Sólidos; Cristalografia
• Análise e Caracterização de Materiais

Técnicas disponíveis

• Difração de Raios X por policristais
• Difração de Raios-X

Equipamentos

• Difratometro de Raios X de Amostras Policristalinas — Panalytical PM-3040/60

Dados extraídos do PNIPE/MCTI.